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L'analisi dei residui ci permette di rilevare impurità in concentrazioni anche minime e può avere un ruolo essenziale nella vostra procedura di controllo qualità. Si tratta di un servizio importante nella produzione di dispositivi a semiconduttore, poiché quantità anche minime di contaminanti possono ridurre il rendimento o persino provocare malfunzionamenti.

L'analisi dei residui di SGS è un servizio specialistico affidabile, essenziale per il controllo qualità nella produzione. Il nostro personale esperto lavora con apparecchiature ad alte prestazioni per localizzare impurità residue che potrebbero causare malfunzionamenti o ridurre l'affidabilità del prodotto. Le nostre procedure di test altamente sensibili vengono eseguite utilizzando:

  • Spettrometria di massa a ioni secondari (SIMS, Secondary Ion Mass Spectrometry): identifica impurità in concentrazioni minime 
  • ToF–SIMS (Time-of-Flight SIMS): rileva impurità superficiali
  • Spettrometria di massa a plasma accoppiato induttivamente (ICPMS, Inductively Coupled Plasma Mass Spectroscopy) coadiuvata dalla decomposizione VPD (Vapor Phase Decomposition) o dal metodo PEM (Pack-Extraction Method): tecnica altamente sensibile ad un'ampia serie di elementi

Contattate SGS per scoprire in che modo la nostra analisi dei residui può migliorare la qualità e l'affidabilità dei vostri prodotti.